MCIS - Pro

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마이크로칩 전자부품 외관 검사장비

MCIS - Pro

RTS에서 개발한 MCIS-PRO 장비는 다년간에 연구개발과 Field에서 경험을
축척한 고속 외관 검사 장비이며 최고의 기구, 조명, Software를 적용하여
분당 최대 3300개 이상 검사 할 수 있는 장비입니다.

  

 

RTS에서 개발한 MCIS-PRO 장비는 다년간에 연구개발과 Field서 경험을 축척한 고속 외관 검사 장비이며 최고의 기구,
조명,Software를 적용하여 분당 최대 3300개 이상 검사 할 수 있는 장비입니다.

  • 새로운 장비 디자인
  • Semi-Automatic Slide side door
  • 안정적인 이미지 처리를 위한 PC 2대 사용
  • 향상된 제품 투입 속도
  • Index 회전 유,무 확인 Sensor
  • 빠르고 정확한 배출 능력
  • Monitoring System

 ▣ 특징

  • 유리판 인덱스 방식
  • Feeder를 이용한 제품 공급
  • 불량 유형에 적합한 조명 설계
  • 강력한 검사 알고리즘
  • 정확한 양품,불량 배출
  • 생산성 : 3000 EA/ Min(1005 기준) ( Max : 4000 EA/ Min)
  • 신개념에 배출구와 Solenoid 채택