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04

IMT광역경제권사업 진행 성공 (지식경제부)

01

신 사업 개발 (ITO Glass Inspection System)

08

신 사업 개발 (E.V.용 2ND Battery Inspection & Assembly)

08

한국생산성본부 주관 PMS인증 획득

05

구매조건부사업 성공 진행 (중소기업청)

02

장영실상 수상

12

500만불 수출탑 수상

10

성남중소벤처대상 수상

04

향남사업장 준공

03

산업자원부 장관상 수상

 

10

중국 상해 사무소 개설  

07

향남 사업장 기공

04

싱가폴 사무소 개설

 

12

중소기업청 지정 벤처기업 인증 획득

11

INNO-Biz 기업 인증 획득

09

산업자원부 장관상 수상 (우수 자본재 개발 유공 기업)

03

ISO 인증 (9001/14001)

02

미주 지역 법인 설립

01

산업 패밀리 기업 지정 (아주대학교)

 

10

사명변경 (주식회사 바른기술 ->주식회사 알티에스)

10

액면분할 (5,000원 -> 500원)

06

제3차 유상증자 (총 자본금 : 1,584,695,000원)

05

유망중소기업 선정 (산업은행)

04

본사 이전 (성남 쌍용 IT 트윈타워 B동)

03

해외 대리점 개설 (심천, 동관, 일본 전역)

 

12

중소기업청 지정 벤처기업 인증획득 (신기술기업)

09

유망중소기업선정 (경기도)

07

해외대리점 개설 (중국,상해)

06

해외대리점 개설 (싱가폴 전역)

 

02

본사 이전 (성남 쌍용 IT 트윈타워 A동)  

 

12

중소기업청 지정 벤처기업 인증획득 (신기술기업)

12

우량기술기업인증 (기술신용보증기금)

09

유망중소기업선정 (중소기업은행)

 

02

미국 Branch Office 설립 

 

12

중소기업청 지정 벤처기업 인증획득 (벤처 캐피탈 투자기업)

11

제1차 무상증자 (총 자본금 : 1,441,840,000원)

10

본사 이전 (분당 테크노 파크)

10

제2차 유상증자 (총 자본금 : 514,270,000원

06

제1차 유상증자 (총 자본금 : 450,000,000원)

 

12

기업 부설 연구소 설립

 

03

(주)바른기술 법인전환 (설립자본금 : 100,000,000원)

 

02

회사 설립 (서울 양재동)

 

08

특허취득 (전자부품 검사장치의 분류장치)

08

특허취득 (전자부품 검사기의 세척장치)

08

특허취득 (전자부품 검사기의 분류장치)

05

특허취득 (전자부품 검사장치)

03

대만 특허취득 (Part align apparatus and electronic part discharge method of in a apparatus for
                     dual electronic part inspection)

03

대만 특허취득 (Apparatus and Method for Dual Electronic Part Inspection)

02

중국 특허취득 (Apparatus and Method for Dual Electronic Part Inspection )  

08

중국 특허취득 (Part Align apparatus and Electronic part Discharge Method of in a Apparatus for
                     Dual Electronic Inspection )  

12

특허취득 (반도체 패키지 검사장치의 트레이 회전장치)

10

특허취득 (전자부품 검사장치)

10

특허취득 (반도체 패키지 검사장치)

02

특허취득 (다체널 영상데이터 처리용 인코드와 디코더  시스템 및 이를 이용한 DVR 시스템)

01

특허취득 (이벤트 발생에 따른 최적의 영상 확보를 위한 저장방법 및 이를 이용한 DVR시스템)  

08

특허취득 (듀얼 전자부품 검사장치에서의 전자 부품 촬영 장치)

12

상표등록 (Secuzer)

12

특허취득 (듀얼 전자부품 검사장치에서의 전자부품 분류방법)

10

특허취득 (디지털문자방송(DMB)에 의한 실시간 교통정보 추출방법 및 그 장치)

10

특허취득 (패널 상태 검사 장치 및 그 방법)

10

특허취득 (패널검사장치)

04

특허취득 (듀얼전자부품검사방법)

04

특허취득 (듀얼전자부품검사장치)

02

특허취득 (듀얼전자부품검사장치에서의 부품 정렬 장치)

02

특허취득 (액정표시장치의 휘도보정 장치)

02

특허취득 (전자부품검사방법)  

 

12

대만 특허취득 (비젼시스템을 이용한 전자부품 검사장치 및 방법)

10

특허취득 (미세정렬 가능한 전자부품 검사장치)

10

특허취득 (전자부품 검사장치)

09

특허취득 (액정패널의 가공장치 및 방법)

09

특허취득 (액정패널 에지면의 회귀라인 도입에 의한 에지면 결함의 검사방법)

06

특허취득 (반도체 칩 측정장치 및 측정방법)

04

특허취득 (비젼시스템을 이용한 전자부품 검사장치)

02

특허취득 (반도체칩 검사 방법 및 반도체 칩의 토탈 하이트와 스탠드 오프 측정 방법)

02

특허취득 (조명장치)  

 

11

Micro Chip Inline System 구축완료

11

Lead Tab 검사장비 개발완료

09

특허등록 (평면표시 패널의 화질검사 방법)  

08

MCIS-PRO 개발 완료

07

특허등록 (비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치 및 방법)

07

특허등록 (타이어 코드 검사방법)

06

LCD Panel Appearance 검사장치 개발완료

04

특허등록 (팬다 프리즘을 이용한 라인 스캔 카메라)

04

특허등록 (패널의 연마공정에 사용하는 카메라 모듈)

03

특허등록 (LCD패널 제조를 위한 그라인딩 장치 및 그라인딩 공정)

03

특허등록 (액정 패널의 에지면 검사방법)

 

11

OLED 검사 시스템 개발완료

07

LCD Panel 검사장치 개발완료

05

IR Filter (카메라모듈)검사장치 개발 완료

05

LCD Cell 화질 검사 장치 개발 완료

02

MCIS-1800 0603 검사 장치개발완료

 

12

핸드폰 LCD Module 외관검사 및 화질 검사장비 개발완료

10

특허등록 (비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치)

10

MCIS-1800 6면 검사장치 개발 완료

08

BGA & LEAD IC 3D 검사장치 개발 완료 → Semiconductor 3D/2D

 

12

특허등록 (비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사방법)

11

삼성전기와 MCIS-1800 (MLCC 외관 선별기) 개발 계약 체결

04

Micro Component Inspection System 개발