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08

韓国生産性本部主催PMSの認証を取得

07

光州(クァンジュ)事業所の設立(プラスチック射出成形部門

02

本社移転(城南工業団地管理公団1003号)

02

チャンヨンシル賞受賞

12

500万ドル輸出塔受賞

10

城南中小ベンチャー大賞受賞

04

ヒャンナム事業場竣工

03

産業資源部長官賞受賞

 

10

中国上海事務所開設

07

向南事業場起工

04

シンガポール事務所開設

 

12

中小企業庁指定ベンチャー企業認証獲得

11

INNO- Biz企業認証獲得

09

産業資源部長官賞(優秀資本財開発有功業

03

ISO認証(9001/14001

02

米州地域法人設立

01

産業ファミリー企業指定(亜洲大学

 

10

社名変更(株式会社正しい技術 - >株式会社アルティエス

10

額面分割(5,000won - >500won

06

第3次増資(総資本金:1,584,695,000won

05

有望中小企業選定(産業銀行

04

本社移転(城南双竜ITツインタワーB棟

03

海外代理店開設(深圳、東莞、日本全域

 

12

中小企業庁指定ベンチャー企業認証(新技術企業

09

有望中小企業選定(京畿道)

07

海外代理店開設(中国、上海)

06

海外代理店開設(シンガポール全域)

 

02

本社移転(城南双竜ITツインタワーA棟)

 

12

中小企業庁指定ベンチャー企業認証(新技術企業)

12

優良技術企業認定(技術信用保証基金)

09

有望中小企業選定(中小企業銀行)

 

02

米国のBranch Officeの設立

 

12

中小企業庁指定ベンチャー企業認証獲得(ベンチャーキャピタル投資企業)

11

第1回の無償増資(総資本金:1,441,840,000won)

10

本社移転(盆唐テクノパーク)

10

第2次増資(総資本金:514,270,000won)

06

第1回有償増資(総資本金:450,000,000won)

 

12

企業付設研究所を設立

 

03

(注)正しい技術法人転換(設立資本金:1億円)

 

02

会社設立(ソウル良才洞)

08

特許取得(電子部品検査装置の分類装置)

08

特許取得(電子部品検査の洗浄装置)

08

特許取得(電子部品検査の分類装置)

05

特許取得(電子部品検査装置)

03

台湾の特許取得
(Part align apparatus and electronic part discharge method of in a apparatus for dual electronic
part inspection)

03

台湾の特許取得 (Apparatus and Method for Dual Electronic Part Inspection)

02

中国の特許取得 (Apparatus and Method for Dual Electronic Part Inspection )  

08

中国の特許取得
(Part Align apparatus and Electronic part Discharge Method of in a Apparatus for
Dual Electronic Inspection )  

12

特許取得(半導体パッケージ検査装置のトレイの回転装置)

10

特許取得(電子部品検査装置)

10

特許取得(半導体パッケージ検査装置)

02

特許取得
(多チャンネル映像、データ処理用インコドゥワデコーダシステムとそれを利用したDVRシステム)

01

特許取得
(イベントの発生に応じた最適な映像を確保するための保存方法及びこれを利用したDVRシステム)

08

特許取得(デュアル電子部品の検査装置での電子部品撮影装置)

12

商標登録(Secuzer)

12

特許取得(デュアル電子部品検査装置の電子部品の分類方法)

10

特許取得(デジタル文字放送(DMB)によるリアルタイムの交通情報を抽出する方法その装置)

10

特許取得(パネル状態の検査装置及びその方法)

10

特許取得(パネル検査装置)

04

特許取得(デュアル電子部品の検査方法)

04

特許取得(デュアル電子部品検査装置)

02

特許取得(デュアル電子部品の検査装置での部品整列装置)

02

特許取得(液晶表示装置の輝度補正装置)

02

特許取得(電子部品の検査方法)

 

12

台湾の特許取得(ビジョンシステムを利用した電子部品検査装置及び方法)

10

特許取得(マイクロソート可能な電子部品検査装置)

10

特許取得(電子部品検査装置)

09

特許取得(液晶パネルの加工装置および方法)

09

特許取得(液晶パネルのエッジ面の回帰ラインの導入によるエッジの場合は、欠陥の検査方法)

06

特許取得(半導体チップの測定装置および測定方法)

04

特許取得(ビジョンシステムを利用した電子部品検査装置)

02

特許取得(半導体チップ検査方法及び半導体チップのトータルハイトとスタンドオフの測定方法)

02

特許取得(照明装置)

 

11

Micro Chip Inline Systemの構築を完了

11

Lead Tab検査装置の開発を完了

09

特許登録(平面表示パネルの画質検査の方法)

08

MCIS- PROの開発を完了

07

特許登録(ビジョンシステムを利用した電子部品検査装置及び方法)

07

特許登録(タイヤコード検査方法)

06

LCD Panel Appearance検査装置の開発を完了

04

特許登録(パンダプリズムを利用したラインスキャンカメラ)

04

特許登録(パネルの研磨工程に使用されるカメラモジュール)

03

特許登録(LCDパネル製造のためのグラインディング装置及びグラインディング工程)

03

特許登録(液晶パネルのエッジには検査方法)

 

11

OLED検査システム開発完了

07

LCD Panel検査装置の開発を完了

05

IR Filter(カメラモジュール)検査装置の開発を完了

05

LCD Cell画質検査装置の開発を完了

02

MCIS-1800 0603検査装置の開発を完了

 

12

携帯電話のLCD Module外観検査と品質検査装置の開発完了

10

特許登録(ビジョンシステムを利用した電子部品検査装置)

10

MCIS-18006面検査装置の開発を完了

08

BGA&LEAD IC 3D検査装置の開発を完了→Semiconductor 3D/2D

 

12

特許登録(ビジョンシステムを利用した電子部品検査方法)

11

三星電気とMCIS-1800(MLCC外観選別機)の開発契約締結

04

Micro Component Inspection Systemの開発